青少年网络成瘾工作记忆中事件相关电位的研究(2010)

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摘要:

网络成瘾作为一种技术成瘾形式,将导致神经系统并发症,心理障碍和关系混乱。 青少年处于最脆弱的年龄组,当他们沉迷于互联网时,他们会比其他年龄组更严重的并发症。 这项研究的目的是分析青少年网络成瘾(IAD)的工作记忆损害。 汉语单词识别被用作事件相关电位(ERP)的实验范例。 13正常青少年和10网络成瘾者接受识别任务,在中文单词中使用旧/新效果,并通过实验设备记录行为数据和脑电图信号。 数据处理后,与正常情况相比,ERP和IAD的行为数据都有一些明显的特征。 差异揭示了神经生理学对工作记忆的损害。

发表于: 电子卫生网络,数字生态系统和技术(EDT),2010国际会议

会议日期: 17-18月2010

添加到IEEE的日期 xplore: 28 June 2010

ISBN信息:

INSPEC入藏号: 11573899

作者: 10.1109 / EDT.2010.5496510

出版商: IEEE