J에 영향을 미칩니다. 2018 12 월 18, 246 : 209-216. doi : 10.1016 / j.jad.2018.12.047.
엘 하이 JD1, Rozgonjuk D2, 일 디림 C3, 알 그라 이베 AM4, 알 라프 난 AA4.
추상
배경 :
문제가있는 스마트 폰 사용 (PSU)은 우울증과 불안증의 심각성과 관련이 있습니다. 그러나 많은 중요한 정신 병리학 구조는 PSU 중증도와의 연관성을 조사하지 못했습니다. 걱정과 분노는 PSU와 관련하여 경험적 조사가 거의없는 두 가지 정신 병리학 구조이지만 이론적으로 중요한 관계를 보여 주어야합니다. 또한, PSU 증상 등급을 기반으로 개인의 잠복 가능한 하위 그룹을 분석하기 위해 혼합 모델링과 같은 사람 중심의 분석을 사용한 연구는 거의 없습니다.
방법 :
우리는 Smartphone Addiction Scale-Short Version, Penn State Worry Questionnaire-Abbreviated Version, Anger Reactions 차원, 300 Scale을 사용하여 5 미국 대학생에 대한 웹 설문 조사를 실시했습니다.
결과 :
잠재 프로필 분석을 사용하여 혼합물 모델링을 수행 한 결과, PSU 항목 등급을 기준으로 잠재 고객 그룹의 3 가지 클래스 모델을 지원했습니다. 나이와 성별, 걱정 및 분노 점수 조정은 심한 PSU 수업에서 유의하게 높았습니다.
토론 :
결과는 과도한 기술 사용을 설명하는 개인차의 측면에서 보완적인 인터넷 사용 이론뿐만 아니라 용도 및 만족 이론의 맥락에서 논의됩니다. 한계는 샘플의 비 임상 적 특성을 포함합니다.
결론 :
걱정과 분노는 PSU의 현상학을 이해하는 데 도움이되는 구성 요소 일 수 있으며 걱정과 분노에 대한 심리적 개입은 PSU를 상쇄 할 수 있습니다.
키워드 : 분노; 잠재 클래스 분석; 스마트 폰 중독; 걱정
PMID : 30583147
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