Sự thất vọng và thất bại của người dùng cuối trong công nghệ kỹ thuật số: khám phá vai trò của nỗi sợ bị bỏ lỡ, nghiện Internet và tính cách (2018)

Heliyon. 2018 ngày 1 tháng 11;4(11):e00872. doi: 10.1016/j.heliyon.2018.e00872. eCollection 2018 tháng 11

Hadlington L 1 , Scase MO 1.

Tóm tắt

Nghiên cứu hiện tại nhằm mục đích khám phá mối quan hệ tiềm tàng giữa sự khác biệt cá nhân trong phản ứng với những thất bại khi sử dụng công nghệ kỹ thuật số. Tổng cộng có 630 người tham gia (50% nam giới) trong độ tuổi từ 18-68 ( M = 41.41, SD = 14.18) đã hoàn thành một bảng câu hỏi trực tuyến. Bảng câu hỏi này bao gồm báo cáo tự đánh giá, thang đo phản ứng với thất bại trong công nghệ kỹ thuật số, thang đo Nỗi sợ bỏ lỡ (FOMO), nghiện Internet và năm đặc điểm tính cách BIG-5. Nỗi sợ bỏ lỡ, nghiện Internet, hướng ngoại và tính dễ bị kích động đều là những yếu tố dự báo tích cực có ý nghĩa thống kê đối với các phản ứng không thích nghi với thất bại trong công nghệ kỹ thuật số. Tính dễ chịu, tận tâm và cởi mở là những yếu tố dự báo tiêu cực có ý nghĩa thống kê đối với các phản ứng không thích nghi với thất bại trong công nghệ kỹ thuật số. Thang đo phản ứng với thất bại trong công nghệ kỹ thuật số cho thấy độ tin cậy nội tại tốt, với các mục được phân bổ vào bốn yếu tố chính, đó là: 'phản ứng không thích nghi', 'phản ứng thích nghi', 'sự hỗ trợ từ bên ngoài và giải tỏa sự thất vọng', và 'sự tức giận và cam chịu'. Các phát hiện được thảo luận trong bối cảnh trải nghiệm người dùng cuối, đặc biệt là khi sự khác biệt cá nhân được cho là ảnh hưởng đến mức độ thất vọng phát sinh từ một lỗi. Các phát hiện này cũng được xem như một hướng đi tiềm năng để giảm thiểu tác động tiêu cực của các lỗi trong công nghệ kỹ thuật số, đặc biệt là trong bối cảnh năng suất của tổ chức và phản ứng đối với các cuộc tấn công mạng độc hại.

PMID: 30426098

PMCID: PMC6223105

DOI: 10.1016/j.heliyon.2018.e00872